X射线衍射仪因其光束*的高强度、平行初级光束和二维探测器，而与同步辐射SAXS光束具有相似的设计。使用二维探测器避免了零维和一维探测器在数据采集时产生的数据误差并除去了对样品限制性初始假定的必要。事实上，X射线衍射仪可以分析并澄清样品的性质，甚至在样品颗粒不对称或表现有择优取向的情况下。另外，通过运行Nanography可以得到样品具有µm量级SAXS分辨率的实空间图像。
X射线衍射仪还配置了高强度的X射线源和新型多层光学配件，可以为样品提供高强类点入射光束。标配的HI-STAR探测器是一种真正意义上的具有光子计数能力的无噪实时二维探测器。
当今的材料科学家和工程师已经可以在纳米尺度了解和改进材料的性质。令人兴奋的新材料，如设计聚合物与生物陶瓷等正在研制之中，同时液晶、金属有机物和薄膜涂层等材料的更新和发展也正因为对它们纳米结构的研究和改进而逐步变为现实。
X射线衍射仪是一种用于纳米结构材料的可靠而且经济的无损分析方法。
X射线衍射仪整个系统的设计都基于简单易行和故障保护的理念之上。像机械减震器这样的工具允许在无用户介入的情况下进行全自动操作。可以根据不同样品和具体应用的需要从大量高性能的光学配件中进行选择，从而达到*的分辨率。
采用新型UMC载物台和各种不同类型的尤拉环可以组合成理想的样品承载系统，非常适于进行残余应力、织构和微区衍射分析。在用X射线反射法对镀层或者半导体进行研究时甚至还可以利用的样品台进行变温研究。
